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            【技術(shù)貼】光伏組件鹽霧試驗(yàn)介紹

            作者: 網(wǎng)絡(luò) 編輯: 瑞凱儀器 來源: m.zhangclab.com 發(fā)布日期: 2019.12.17
                光伏(PV)組件是用于在其生命周期內(nèi)連續(xù)戶外暴露的電氣設(shè)備。在一些特殊的地理?xiàng)l件下,如:鹽堿地、沿海等地,強(qiáng)腐蝕性的潮濕大氣,終可能導(dǎo)致光伏組件金屬部件的腐蝕和一些非金屬材料的性能惡化,影響其安全性能及輸出功率。
                以下文件全部或部分被引用,對(duì)于其應(yīng)用是必不可少的。
                1、IEC 60068-2-52, Environmental testing – Part 2-52: Tests – Test Kb: Salt mist, cyclic ( sodium chloride solution)
                2、IEC 61215:2005, Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV) modules–Design qualification and type approval
                3、IEC 61646:2008, Thin-film terrestrial photovoltaic (PV) modules – Design qualification and type approval
                4、IEC 61730-2:2004, Photovoltaic (PV) module safety qualification – Part 2: Requirements for testing
                5、IEC 62108:2007, Concentrator photovoltaic (CPV) modules and assemblies – Design qualification and type approval
                6、ISO/IEC 17025, General requirements for the competence of testing and calibrationlaboratories

                1、樣品要求

                3塊相同的光伏組件樣品,1塊控制件+2塊測(cè)試件。每次檢測(cè)樣品時(shí),應(yīng)使用控制件進(jìn)行檢查,以評(píng)估鹽霧試驗(yàn)的效果。
            聚光組件需要根據(jù)不同情況選擇樣品,非現(xiàn)場調(diào)節(jié)聚光點(diǎn)的聚光組件需要3塊組件,現(xiàn)場調(diào)節(jié)聚光點(diǎn)的聚光系統(tǒng)需要3個(gè)接收器(如果應(yīng)用,要包含二次光學(xué)部分)+3個(gè)初級(jí)光學(xué)部分,同時(shí)完成測(cè)試序列。
                如果全尺寸的樣品太大,無法放入鹽霧試驗(yàn)箱中,則可專門設(shè)計(jì)和制造較小的具有代表性的樣品。具有代表性的樣品應(yīng)盡可能與全尺寸樣品的工藝相同。事實(shí)上,測(cè)試是在有代表性的樣品上而不是在全尺寸的樣品上進(jìn)行的。樣品信息必須在測(cè)試報(bào)告中注明。
                如果光伏組件有接地裝置,那么接地裝置也是樣品的一部分。

                2、測(cè)試過程

                預(yù)處理
                所有測(cè)試樣品應(yīng)根據(jù)IEC標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定進(jìn)行預(yù)處理。
                IEC61215:>5kWh/m2  
                IEC61646:無要求
                IEC62108:大于5-5.5kWh/m2
                初始測(cè)試
                晶體硅組件
                根據(jù)IEC 61215進(jìn)行測(cè)試:
                a)10.2:功率測(cè)定  
                b)10.15:濕漏電流試驗(yàn)
                根據(jù)IEC 61730-2進(jìn)行測(cè)試:
                c) MST 01:外觀檢查
                d) MST 13:接地連續(xù)性試驗(yàn)
                e) MST 16:絕緣耐壓試驗(yàn)
                薄膜組件
                根據(jù)IEC 61646進(jìn)行測(cè)試:
                a)10.2:功率測(cè)定  
                b)10.15:濕漏電流試驗(yàn)
                根據(jù)IEC 61730-2進(jìn)行測(cè)試:
                c) MST 01:外觀檢查
                d) MST 13:接地連續(xù)性試驗(yàn)
                e) MST 16:絕緣耐壓試驗(yàn)
                聚光組件(CPV)
                根據(jù)IEC 62108進(jìn)行測(cè)試:
                a)10.1:外觀檢查  
                b)10.2:電性能測(cè)試
                c)10.3:接地連續(xù)性試驗(yàn)
                d)10.4:電氣絕緣試驗(yàn)
                e)10.5:濕絕緣試驗(yàn)

                3、鹽霧試驗(yàn)程序

                根據(jù)IEC 60068-2-52中所述的鹽霧試驗(yàn)的一般條件、儀器、鹽溶液的特性、嚴(yán)重程度和其他規(guī)格,適用于所研究的試驗(yàn)樣品。鹽霧試驗(yàn)的嚴(yán)重程度應(yīng)根據(jù)安裝光伏組件的地方普遍存在的大氣條件來選擇。
                嚴(yán)酷度1:組件用于海上,或者海邊。
                嚴(yán)酷度2:不適合光伏組件,因?yàn)闇y(cè)試條件太弱(確實(shí)如此)。適用于經(jīng)常暴露在腐蝕性環(huán)境中的產(chǎn)品,通常由外殼保護(hù)),在應(yīng)用本標(biāo)準(zhǔn)時(shí)應(yīng)避免使用。
                嚴(yán)酷度3-6:組件用于含鹽的干燥氣氛,例如:用鹽作為融冰劑。
                在測(cè)試過程中,光伏組件的表面應(yīng)從鹽霧試驗(yàn)機(jī)的垂直方向傾斜15°至30°。

                4、清洗和恢復(fù)

                在鹽霧測(cè)試后,所有的樣品都要清洗以去除附著的鹽。清洗或干燥時(shí),洗滌用水的溫度不得超過35度。避免使用布、紗布或任何其他編織材料,不得刮擦。干燥后為避免鹽沉積造成進(jìn)一步損害,應(yīng)盡量縮短恢復(fù)時(shí)間,并進(jìn)行相應(yīng)的試驗(yàn)。

                5、終測(cè)試

                晶體硅組件
                根據(jù)IEC 61215進(jìn)行測(cè)試:
                a)10.2:功率測(cè)定  
                b) 10.15:濕漏電流試驗(yàn)
                根據(jù)IEC 61730-2進(jìn)行測(cè)試: 
                c) MST 01:外觀檢查
                d) MST 13:接地連續(xù)性試驗(yàn)
                e) MST 16:絕緣耐壓試驗(yàn)
                根據(jù)IEC 61701進(jìn)行測(cè)試:
                f)4.2旁路二極管功能試驗(yàn)
                薄膜組件
                根據(jù)IEC 61646進(jìn)行測(cè)試:
                a)10.6:STC下的性能
                b) 10.15:濕漏電流試驗(yàn)
                c) 10.19:光老化試驗(yàn)
                d)10.6:STC下的性能(光老化后)
                根據(jù)IEC 61730-2進(jìn)行測(cè)試:
                e) MST 01:外觀檢查
                f) MST 13:接地連續(xù)性試驗(yàn)
                g) MST 16:絕緣耐壓試驗(yàn)
                根據(jù)IEC 61701進(jìn)行測(cè)試:
                h)4.2旁路二極管功能試驗(yàn)
                聚光組件(CPV)
                根據(jù)IEC 62108進(jìn)行測(cè)試:
                a)10.1:外觀檢查  
                b) 10.2:電性能測(cè)試
                c)10.3:接地連續(xù)性試驗(yàn)
                d)10.4:電氣絕緣試驗(yàn)
                e)10.5:濕絕緣試驗(yàn)
                根據(jù)IEC 61701進(jìn)行測(cè)試:
                f)4.2旁路二極管功能試驗(yàn)

                6、判定標(biāo)準(zhǔn)

                外觀:在鹽霧測(cè)試后,不應(yīng)有IEC 標(biāo)準(zhǔn)中所述的肉眼或視覺缺陷的跡象,包括零部件的機(jī)械損壞或腐蝕,這些損壞或腐蝕將嚴(yán)重影響其預(yù)期壽命。
                電性能衰減:晶體硅組件<5%
                薄膜組件>90%的標(biāo)稱功率(光老化后)
                聚光組件(CPV),室外自然光<7%;太陽能模擬器<5%
                注意:通過/失敗的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)該考慮實(shí)驗(yàn)室測(cè)量的不確定度。

                絕緣、濕漏電、接地應(yīng)符合IEC 61730-2,IEC 62108中對(duì)這些特定測(cè)試的規(guī)定來完成。旁路二極管功能測(cè)試要求也應(yīng)滿足。

            晶體硅組件鹽霧腐蝕試驗(yàn)序列圖

            晶體硅組件鹽霧腐蝕試驗(yàn)序列圖

            薄膜組件鹽霧腐蝕試驗(yàn)序列圖

            薄膜組件鹽霧腐蝕試驗(yàn)序列圖


            聚光組件(CPV)鹽霧腐蝕試驗(yàn)序列圖聚光組件(CPV)鹽霧腐蝕試驗(yàn)序列圖

                7、試驗(yàn)周期

                嚴(yán)酷度1:
                (鹽霧2h+高濕度保存194h)*4個(gè)循環(huán)=7天*4個(gè)循環(huán)=28天
                嚴(yán)酷度2:
                (鹽霧2h+高濕度保存22h)*3個(gè)循環(huán)=1天*3個(gè)循環(huán)=3天
                嚴(yán)酷度3:
                (鹽霧2h+高濕度保存22h)*4個(gè)循環(huán)+標(biāo)準(zhǔn)氣氛3天=1天*4個(gè)循環(huán)+3天=7天
                嚴(yán)酷度4:
                嚴(yán)酷度3*2個(gè)周期=14天嚴(yán)酷度3*2個(gè)周期=14天
                嚴(yán)酷度5:
                嚴(yán)酷度3*4個(gè)周期=28天
                嚴(yán)酷度6:

                嚴(yán)酷度3*8個(gè)周期=56天

            光伏組件鹽霧試驗(yàn)介紹

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